鍍層厚度量測(cè)顯微鏡/層厚測(cè)量顯微系統(tǒng)

日期：2024-11-07 09:10

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摘要：層厚測(cè)量顯微系統(tǒng)歐米特層厚測(cè)量顯微系統(tǒng)的發(fā)展基于**的光學(xué)和圖像技術(shù)，使用高分辨率CCD和CMOS攝像機(jī)，將顯微鏡的光學(xué)圖像轉(zhuǎn)換到計(jì)算機(jī)中，與歐米特專用的測(cè)量軟件系統(tǒng)進(jìn)行圖像測(cè)量，能夠提供舒適的操作和靈活的解決方案。